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Oberflächen- und Grenzflächenanalytik in fluiden und festen Systemen

Prinzip

• Kombination von Elektronenspektroskopie (MIES), ARUPS/ARXPS

Anwendung

• Analyse der chemischen Zusammensetzung der äusseren Lage von festen und flüssigen Oberflächen
• Tiefenprofilanalyse an flüssigen und festen Oberflächen (element- und verbindungsspezifisch)
• Aussagen zur Gleichmäßigkeit und/oder Anreicherungsprozessen in Monoschichten
• Schichtaufbau

Interessenten

• Halbleiterindustrie, Chiphersteller
• chemische Industrie
• Materialwissenschaften